顯微分光膜厚儀 OPTM SERIES 產(chǎn)品特點(diǎn)： 非接觸、非破壞式，量測(cè)頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內(nèi) 初學(xué)者也能輕松解析建模的初學(xué)者解析模式 高精度、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波段內(nèi)的*反射率，可分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n：折射率、k：消光系數(shù)） 單點(diǎn)對(duì)焦加量測(cè)在1秒內(nèi)完成 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外 ~ 近紅外） 獨(dú)立測(cè)試頭對(duì)應(yīng)各種inline定制化需求 *小對(duì)應(yīng)spot約3μm *可針對(duì)薄膜解析nk 北崎國際貿(mào)易（北京）有限公司 優(yōu)勢(shì)銷售