通過結(jié)國外同類產(chǎn)品的優(yōu)點,本著實用、方便、測試精簡的宗旨,面向國內(nèi)外市場推出的數(shù)字IC參數(shù)測試儀(并且在不斷地完善之中)。該儀器特別適合,整機生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級進廠測試。目前,對中小規(guī)模數(shù)字IC進行簡單的邏輯功能測試,已不能滿足IC用戶的測試需求。數(shù)字IC多值邏輯測試儀,利用獨創(chuàng)的多值參數(shù)比較法,可以對數(shù)字IC進行功能測試并同時完成各項直流參數(shù)測試。完全可以滿足IC用戶的參數(shù)測試要求。是一種性能實用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的測試儀器。
本系統(tǒng)的主要特點
測試范圍及測試品種:28Pin
54系列; 74系列;
4500系列;4000系列;
RAM 256K BIT
EPROM 64K BIT
C00 系列;
產(chǎn)品主要性能:
在功能測試的基礎(chǔ)上 測試器件的輸入端注入電流。
測試器件的功耗電流。
測試器件的輸入端交叉漏電流。
查找未知芯片型號。
測試器件的輸出端:三態(tài)“及”O(jiān)C“門。 可以單次測試,也可以循環(huán)測試。
測試器件的輸出負載電流。
可自動識別74系列中的CMOS(如:74C,74HC,74HCT等)。
本產(chǎn)品所提供的多值測試參數(shù):
8種可選擇的測試電阻。
可設(shè)置多種輸入端注入電流。
多種測試電壓比較值。
功耗測試。
以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測試模式,其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。
測試模式:
模式O:全組合參數(shù)測試。
模式1-C:操作與模式O相同,但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。
模式D:任選輸入負載電流及測試電源和輸入電流測試。
模式E:自檢。內(nèi)容包括計算機部分,顯示,鍵盤及測試管腳電路。
模式F:自編程測試.
數(shù)字集成電路多值邏輯測試儀
測試電源拉偏狀態(tài)下,輸出電平加載測試。
對輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進行測試的同時,完成真值表功能測試。
真值表功能測試的同時,完成“三態(tài)”(高阻狀態(tài))漏電流測試。
對IC輸入電流、功耗電流測試。
輸入漏電流及交叉漏電流測試。
測試過程無須人工干預(yù)。
用戶可以自選測試模式,使用方便、操作簡潔。
可自動識別74系列中的CMOS器件。
可以查找未知IC的型號。
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通過結(jié)國外同類產(chǎn)品的優(yōu)點,本著實用、方便、測試精簡的宗旨,面向國內(nèi)外市場推出的數(shù)字IC參數(shù)測試儀(并且在不斷地完善之中)。該儀器特別適合,整機生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級進廠測試。目前,對中小規(guī)模數(shù)字IC進行簡單的邏輯功能測試,已不能滿足IC用戶的測試需求。數(shù)字IC多值邏輯測試儀,利用獨創(chuàng)的多值參數(shù)比較法,可以對數(shù)字IC進行功能測試并同時完成各項直流參數(shù)測試。完全可以滿足IC用戶的參數(shù)測試要求。是一種性能實用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的測試儀器。