XF802-P30厚度表用來(lái)測(cè)量薄膜,紙張,塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用,測(cè)量表面處理后的表面粗糙度。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術(shù)指標(biāo):
儀器型號(hào)
XF802-P30
測(cè)量范圍
0-1000 μm
顯 示
1 μm
儀器尺寸
125*95*25 mm
重 量
270 g
裝 箱 單
SP300主機(jī), 說(shuō)明書和合格證
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XF802-P30厚度表用來(lái)測(cè)量薄膜,紙張,塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用,測(cè)量表面處理后的表面粗糙度。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術(shù)指標(biāo):
儀器型號(hào)
XF802-P30
測(cè)量范圍
0-1000 μm
顯 示
1 μm
儀器尺寸
125*95*25 mm
重 量
270 g
裝 箱 單
SP300主機(jī), 說(shuō)明書和合格證