ATX310超聲波測(cè)厚儀概述

        ATX310超聲波測(cè)厚儀為智能型超聲波測(cè)厚儀，采用新的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量?？梢詫?duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作測(cè)量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多個(gè)領(lǐng)域。

ATX310超聲波測(cè)厚儀功能特點(diǎn)

• 適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；

• 可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用；

• 已知厚度可以反測(cè)聲速，以提高測(cè)量精度；

• 具有耦合狀態(tài)提示功能；

• 有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；

• 有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量；

• 具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能；

• 小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾；

ATX310超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

• 顯示方法:高對(duì)比度的128*64液晶顯示，高亮度EL背光；

• 測(cè)量范圍:0.75 ~ 600.0mm（鋼）

• 材料聲速:1000 ~ 9999m/s

• 分辨力: 0.01mm

• 示值精度誤差:

       1、測(cè)量范圍 0.75 ~ 3.3時(shí)，分辨力0.01mm，允許誤差±0.05
       2、測(cè)量范圍3.3 ~ 99.99時(shí)，分辨力0.01mm，允許誤差±（1‰H+0.04）注:H為測(cè)量的厚度
       3、測(cè)量范圍100.0 ~ 300.0時(shí)，分辨力0.01mm，允許誤差±3‰H,注：H為測(cè)量的厚度 
       4、測(cè)量范圍300.0 ~ 600.0時(shí)，分辨力0.0mm1，允許誤差±5‰H 注：H為測(cè)量的厚度

• 測(cè)量周期:單點(diǎn)測(cè)量時(shí)每秒鐘6次；

• 校正模式:配機(jī)試塊4mm自動(dòng)校正 /用戶自定義校正（單點(diǎn)校正 /雙點(diǎn)校正）

• 測(cè)量功能:小讀數(shù)俘獲、平均測(cè)量、設(shè)限測(cè)量、差值測(cè)量 等軟件功能可選

• 測(cè)量模式:R-B1（發(fā)射脈沖至一次回波）

• 動(dòng)態(tài)測(cè)聲速功能:可利用輸入已知厚度，動(dòng)態(tài)掃查測(cè)讀被測(cè)工件的聲速

• 智能電源功能:開機(jī)閑置一段時(shí)間后，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)電池低壓指示

• 蜂鳴器:校準(zhǔn)提示、限提示

• 存        儲(chǔ):40組測(cè)厚數(shù)據(jù)（僅測(cè)量值，聲速值）40組參數(shù)數(shù)據(jù)集（包括測(cè)量值、儀器設(shè)置等參數(shù)）

• 語(yǔ)        言:中文/英文 可選

• 單位制式:公制（mm）/英制（inch）可選

• 工作時(shí)間:≥30h

• 供電模式:二節(jié)5號(hào)電池

• 環(huán)境溫度：操作溫度－20℃～＋50℃；存儲(chǔ)溫度：-30℃～＋70℃
  相對(duì)濕度≤90％；
  周圍環(huán)境無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無(wú)腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。

• 重       量:約245g（含電池）

• 尺       寸:145mm×74mm×32 mm（高×寬×厚）

探頭選擇及材料聲速表

材料聲速表

ATX310超聲波測(cè)厚儀基本配置

• ATX310超聲波測(cè)厚儀主機(jī)  

• 5PΦ10標(biāo)配探頭               

• 電池                                  

• 耦合劑                              

• 通訊電纜                           

• 隨機(jī)文件                           

• 儀器箱      

ATX310超聲波測(cè)厚儀可選附件

• 聲波測(cè)厚儀探頭

• 階梯試塊

• 時(shí)代超聲波測(cè)厚儀選型表