X射線鍍層熒光測厚儀采用開放式樣品室設(shè)計。

的二維移動樣品平臺，配有可上下調(diào)節(jié)的探測器和X射線管，能夠?qū)崿F(xiàn)三維位移。

雙激光定位系統(tǒng)。

鉛玻璃護罩。

信號檢測的電子電路。

高低壓電源系統(tǒng)。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機和噴墨打印機

性能特點

X射線熒光測厚儀能夠滿足對不同厚度和不規(guī)則表面樣品的測量需求。

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足對微小測試點的需求。

高移動平臺的測試點重復(fù)定位低于0.005毫米。

X射線鍍層光譜測厚儀采用高激光進行自動高度定位檢測。

使用定位激光來確認(rèn)光斑的位置，確保測試點與光斑準(zhǔn)確對齊。

鼠標(biāo)可以用來操控移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是測量點。

高分辨率探頭增強了分析結(jié)果的度。

*的輻射屏蔽效果

對測試口高度敏感的傳感器實施保護措施。

儀器介紹

釹鐵硼磁鐵鍍鎳測厚儀是一種設(shè)備，用于測量金屬表面涂層的厚度，適用于鍍金、鍍銀、鍍銅、鍍鎳和鍍鋅等多種鍍層。Thick800A電鍍膜厚度測量儀器是天瑞基于多年的經(jīng)驗研發(fā)的設(shè)備，專為鍍層行業(yè)而設(shè)計，具備全自動軟件操作功能，能夠進行多點測試。儀器的測試位置和移動平臺均由軟件進行控制。這是一款功能強大的設(shè)備，結(jié)合專門開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中表現(xiàn)優(yōu)異。

技術(shù)指標(biāo)

型號是：Thick800A。

元素分析的范圍包括從硫（S）到鈾（U）的所有元素。

可以同時檢測過30種元素，并支持五層涂層的分析。

鍍層的厚度一般不過50微米（具體數(shù)值會因材料的不同而有所變化）。

可選擇多種分析和識別模型。

X射線鍍層光譜測厚儀的獨立基底效應(yīng)校正模型。

多元非線性回收算法

適用的溫度范圍是15℃到30℃。

電源要求：交流電220V±5V，建議使用交流凈化穩(wěn)壓電源。

外形尺寸為：寬576毫米×深495毫米×高545毫米。

樣品室的尺寸為500毫米（寬）× 350毫米（深）× 140毫米（高）。

體重為90公斤。

應(yīng)用領(lǐng)域

對黃金、鉑金、白銀等貴金屬及各種首飾的成分進行分析和檢測。

對金屬鍍層厚度進行測量，以及對鍍液和鍍層成分進行分析。

釹鐵硼磁鐵鍍鎳測厚儀主要用于貴金屬加工、珠寶制造行業(yè)，此外，還廣泛應(yīng)用于銀行、珠寶銷售機構(gòu)和電鍍行業(yè)。