通過結(jié)國(guó)外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn),本著實(shí)用、方便、測(cè)試精簡(jiǎn)的宗旨，面向國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)推出的數(shù)字IC參數(shù)測(cè)試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器特別適合，整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前，對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試，已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求。數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀，利用獨(dú)創(chuàng)的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。完全可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的測(cè)試儀器。
本系統(tǒng)的主要特點(diǎn) 
測(cè)試范圍及測(cè)試品種：28Pin 
　54系列； 74系列； 
　4500系列；4000系列；
　RAM 256K BIT
　EPROM 64K BIT
　C00 系列；

產(chǎn)品主要性能：
　在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上 測(cè)試器件的輸入端注入電流。
　測(cè)試器件的功耗電流。 
　測(cè)試器件的輸入端交叉漏電流。 
　查找未知芯片型號(hào)。 
　測(cè)試器件的輸出端：三態(tài)“及”O(jiān)C“門。 可以單次測(cè)試，也可以循環(huán)測(cè)試。
　測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。 
　可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。

本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù)： 
　8種可選擇的測(cè)試電阻。
　可設(shè)置多種輸入端注入電流。 
　多種測(cè)試電壓比較值。 
　功耗測(cè)試。
　以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測(cè)試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測(cè)試模式。

測(cè)試模式：
　模式O：全組合參數(shù)測(cè)試。 
　模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。
　模式D：任選輸入負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸入電流測(cè)試。 
　模式E：自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示，鍵盤及測(cè)試管腳電路。
　模式F：自編程測(cè)試.

  數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀
　測(cè)試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測(cè)試。

　對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)，完成真值表功能測(cè)試。

　真值表功能測(cè)試的同時(shí)，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測(cè)試。

　對(duì)IC輸入電流、功耗電流測(cè)試。

　輸入漏電流及交叉漏電流測(cè)試。

　測(cè)試過程無(wú)須人工干預(yù)。

　用戶可以自選測(cè)試模式，使用方便、操作簡(jiǎn)潔。

　可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。

　可以查找未知IC的型號(hào)。