GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）

應用對象:該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

滿足標準：

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法

GB/T 5654-2007液體絕緣材料 相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

GB/T 21216-2007絕緣液體 測量電導和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法介質(zhì)損耗角正切值的測試方法

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)

損耗因數(shù)的方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法